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日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测新品
报价:300元
品牌:
产地: 日本
关注度: 293
型号: Parshe
核心参数

误差率:≤±0.5% FS

分辨率:0.1%

重现性:≤±1.2%

仪器原理:动态光散射

分散方式:红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散

测量时间:0‑99min可调

测量范围:湿基 0~100%、干基 0~500%,称量 0.5-120g

标签

森泽图像粒度仪

森泽Parshe

国产图像粒度仪

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产品介绍

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细川密克朗动态图像分析仪 Parshe 是一款流动颗粒图像分析仪,旨在通过图像分析测量颗粒的粒径与形貌。该系统可生成精准清晰的图像,实现高级颗粒形貌测量,因为所有颗粒在流经鞘流池时均处于对焦状态。自动调焦系统可修正可能影响测量数值的微小偏差,因此获取清晰的颗粒图像无需专业调试技能。此外,设备内置镜头可根据颗粒粒径由软件自动切换。同时,可选配的自动进样器(PAS-AS)可在测量启动前对颗粒进行分散处理,在多样品检测时作为前处理步骤,从而避免不同操作人员之间产生分析测量数值差异。



工作原理

“光学 / 流量控制 / 电气 / 图像分析复合技术”

该系统可将颗粒持续输送至鞘流池。通过 “夹持” 鞘液流,使样品被导向特定对焦位置,进而由相机完成聚焦。鞘流池置于氙气灯与相机之间,相机拍摄经氙气灯照射的颗粒图像以形成阴影图,从而生成轮廓清晰、可被精准捕捉的颗粒影像。

自动调焦系统会修正可能影响测量数值的微小偏差,以此获取清晰的颗粒图像。



特点

动态图像分析仪 Parshe被誉为 “用于精细颗粒检测的顶尖流动颗粒图像分析仪之一”。

且能够精准分析从纳米级到数百微米级的多种精细颗粒图像。


“先进流量控制系统”

将粒子引导至焦点位置。 

快速分析

拍摄范围宽广

可在 1 分钟内拍摄约 50 万张 1 微米颗粒的颗粒图像

分析时间仅为普通流式颗粒图像分析仪的十分之一

自动内置镜头选择系统

软件会根据颗粒大小自动选择内置镜头。(共 2 种镜头规格:A)标准模式,适用于约 5 微米的颗粒;B)高倍放大模式,适用于 1 微米及更小的颗粒)


人为失误防范

自动调焦系统可校正鞘流池中的细微偏差,从而获取清晰、精准的颗粒图像。

预处理对于获得可重复的结果至关重要。

可选配自动进样器(PAS-AS)可在开始测量前对颗粒进行分散处理,在多个样品检测时可作为预处理条件。

消除不同操作人员之间的分析测量值差异

自动清洁系统

 大限度简化清洁流程。

无需操作人员进行清洁作业。

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产品小贴士

日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测由深圳森泽工业品有限公司提供,产地为日本,属于进口图像粒度仪,符合多项国家和国际标准,广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域,日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测凭借其创新性与实用性,在图像粒度仪用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分),入选图像粒度仪近30天热度榜。

根据森泽官方产品资料显示:日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测的误差率为≤±0.5% FS,分辨率为0.1%,重现性为≤±1.2%,仪器原理为动态光散射,分散方式为红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散,测量时间为0‑99min可调 ,测量范围为湿基 0~100%、干基 0~500%,称量 0.5-120g,日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测的价格为300元,具体型号是Parshe。


官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_396014.html
来源:深圳森泽工业品有限公司
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深圳森泽工业品有限公司为您提供日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测,日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测产地为日本,属于图像粒度仪,除了日本HOSOKAWA Parshe 动态图像分析仪 颗粒粒径形貌检测的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供日本 Micro‑tec ESC‑500 静电夹具专用丝网印刷机 半导体静电卡盘、日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用、日本JTEKT AllFit 支持过热蒸汽惰性气体烘箱 陶瓷脱脂炉 AF-INH 型。
工商信息
企业名称

深圳森泽工业品有限公司

企业类型

信用代码

91440300MAKDH8EP3N

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