SDI ND-0407-N1-CE 日本 纳米薄膜双轴提拉镀膜实验配置方案2026/10/30 阅读:4
方案摘要
应用领域:薄膜研发、蛋白薄膜、纳米颗粒、胶体晶体、光学涂层、高校实验
行业痛点:实验室制备蛋白薄膜、胶体晶体与纳米颗粒阵列时,普通提拉机速度下限多在毫米每秒量级,无法复现纳米级膜厚,颗粒沉积松散、均匀性不足;单轴垂直提拉不能做斜向镀膜与密度梯度膜,两种溶液交替吸附需要人工反复穿片,批次间残留与湿度波动引入误差;CE出口研究环境需要合规机型与日英双语界面,进口设备电源与夹具适配不到位会拖延实验进度;不同基板厚度与承载差异大,薄片、立体件与带角度试样在固定夹具上难以保持稳定浸入姿态,工艺参数难以复现。
解决方案:配置SDI ND-0407-N1-CE台式纳米提拉镀膜机,Z轴与X轴行程各150mm,速度范围从1nm每秒到60mm每秒连续可变,θ角机构支持斜向提拉与角度保持;触摸屏设定最多16个速度点、停止位置与停留时间,记忆8组运动程序,连续点驱动可在一次提拉途中分段切换速度实现膜厚梯度。两轴独立或联动动作,配合聚丙烯标准夹具,最大承载500g、最大加工高度100mm,依次浸入两种溶液完成交替吸附多层膜。设备本体W410×D256×H513mm约11kg,控制箱W380×D400×H200mm约10kg,电源AC100至240V 300VA,屏幕日英切换,CE标志合规版本。工艺开发时先以标准基板在常用速度区间建立基线,再按膜厚需求调整分段速度与停留时间,8组程序可对应不同溶液体系与基板规格。
方案优势:1nm每秒超低速段覆盖纳米薄膜制备需求,避免普通机型速度下限偏高造成膜厚过大;双轴与θ角把斜向镀膜、密度梯度与交替吸附整合到同一台设备;16点速度与8组程序使工艺参数可复现、可存档,批次间差异缩小;CE合规与双语界面适配出口研究环境与国际合作项目;台式紧凑结构适合实验室与洁净间布置,控制箱与立柱分体便于按实验台尺寸摆放。夹具材质、溶液兼容性与特殊基板选配以正式规格书为准。






