行业痛点：粉体隐性缺陷、细微裂纹、内部杂质在可见光下无法识别，常规光源光照不均、光谱单一，无法满足高端粉体精细化品控需求，导致隐性不良品批量流出。

解决方案：搭载日本HAYASHI-REPIC LA-150IR-850红外专用光源，凭借稳定近红外光谱与无级调光功能，放大粉体隐性缺陷对比度，配合机器视觉系统实现高精度瑕疵筛查。光纤导光设计规避高温影响物料性能，适配自动化产线连续检测。

方案优势：精准凸显粉体可见光盲区缺陷，大幅提升高端粉体良品率；光照均匀稳定，检测数据一致性高；分体式设计适配工业产线，不影响粉体生产工况。