日本IHARA T5 plus+透射密度计 粉体覆膜涂层光学质控解决方案2026/09/21 阅读:276
方案摘要
行业痛点:粉体覆膜、透光涂层厚薄不均、致密性参差,导致成品透光率、遮光率不稳定,传统检测设备光源衰减快,检测数据偏差大。
解决方案:采用日本IHARA T5 plus+ LED款透射密度计,依托长效稳定LED光源,精准检测粉体覆膜制品的透射密度与透光参数,筛查涂层不均、薄涂、缺陷产品,优化粉体覆膜工艺。
方案优势:LED光源稳定耐用,检测数据精准重复性高;精准管控粉体光学涂层品质;助力高端透光粉体产品品质标准化升级。
配置单
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