NAPSON DUORES手持式薄层电阻测量仪|功能粉体导电性能检测解决方案2026/09/02 阅读:288
方案摘要
行业痛点:导电、防静电、电磁屏蔽类功能粉体,常应用于涂层、薄膜、复合基材加工,粉体成型薄层的电阻均匀性是核心品质指标。传统台式检测设备笨重、移动不便,无法适配产线现场快速抽检,容易出现粉体薄层导电不均、局部阻值超标问题,导致成品防静电、导电性能不达标,影响下游产品使用效果。
解决方案:采用NAPSON DUORES手持式薄层电阻测量仪,适配功能粉体成型薄层的现场无损快速检测。设备机身轻巧便携,可直接在粉体生产线、试样研发区、来料抽检区开展检测,无需固定场地。专用微电阻检测模组可无损伤测试粉体镀膜、薄层基材的方阻与电阻参数,不划伤精密粉体成型表面,检测数据稳定、重复性强。可快速筛查粉体薄层导电不均、阻值异常等缺陷,实现功能粉体生产过程的实时质控,助力企业优化粉体配比、成型工艺,保障功能粉体导电、防静电性能稳定达标。
配置单
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