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Exicor OIA 斜入射光学元件双折射测量系统
报价:2222元
品牌:
产地: 美国
关注度: 257
型号: Exicor OIA
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产品介绍

Exicor OIA 是美国 Hinds Instruments 推出的斜入射式光学元件双折射测量系统,专为正入射 / 斜入射场景下的透镜、平行面 / 曲面光学元件检测设计,基于行业标杆级 PEM 照片弹性调制技术,是下一代光刻透镜、高价值光学元件研发与质控的核心设备。

系统采用偏振电磁波调制技术,精准测量光学元件对光束偏振态的改变,实现 0.001nm 延迟分辨率、±0.03nm 重复性(VIS 波段),0.01° 角分辨率、<±0.5° 重复性,可精准评估双折射、快轴方向与理论残余应力。支持自动扫描平行平板、球面透镜,手动宏程序扫描非球面元件,生成 2D 阻尼 / 快轴方向图与全域扫描统计,搭配可从上方自由访问的样品台,适配大尺寸、异形光学元件检测。设备内置紫外线 / 激光封闭安全联锁、紧急停止、状态指示灯塔,保障操作安全,配套专业工作站与分析软件,可直观呈现 3D 应力分布,适配半导体光刻、光学材料研发、精密光学制造等高端场景。


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产品小贴士

Exicor OIA 斜入射光学元件双折射测量系统由深圳市秋山贸易有限公司提供,产地为美国,属于进口其他,符合多项国家和国际标准,广泛应用于综合其他等领域,Exicor OIA 斜入射光学元件双折射测量系统凭借其创新性与实用性,在其他用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。

根据Sreen官方产品资料显示:Exicor OIA 斜入射光学元件双折射测量系统的价格为2222元,具体型号是Exicor OIA。

在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 品牌 型号 产地类型 价格
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官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns20753/productsdetail_387923.html
来源:深圳市秋山贸易有限公司
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深圳市秋山贸易有限公司为您提供Exicor OIA 斜入射光学元件双折射测量系统,Exicor OIA 斜入射光学元件双折射测量系统产地为美国,属于其他,除了Exicor OIA 斜入射光学元件双折射测量系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供日本清新SEISHIN多功能粉体物性测试仪、日本PRIMIX研究用超高速搅拌机、BUCHI实验用喷雾干燥机。
工商信息
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深圳市秋山贸易有限公司

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91440300MA5EKKB02M

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