新品：百特纳米粒度及Zeta电位仪BeNano 180 Zeta Pro-丹东百特

丹东百特仪器有限公司 2024/1/6 09:03:53 点击 11964 次

导读近日，丹东百特仪器有限公司发布百特纳米粒度及Zeta电位仪BeNano 180 Zeta Pro新品

BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

基本性能指标

粒径检测

原理	动态光散射技术
粒径范围	0.3 nm – 15 μm
样品量	3 μL – 1 mL
检测角度	173 °+90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zate电位测试

原理	相位分析光散射技术
检测角度	12°
Zeta范围	无实际限制
电泳迁移率范围	> ±20 μ.cm/V.s
电导率范围	0 - 260 mS/cm
Zeta测试粒径范围	2 nm – 110 μm

分子量测试

分子量范围

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流变测试

频率范围	0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s
测试能力	均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

粘度和折光率测试

粘度范围	0.01 cp – 100 cp
折光率范围	1.3-1.6

趋势测试

时间与温度

系统参数

温控范围	-15°C - 110°C +/- 0.1°C
冷凝控制	干燥空气或者氮气
相关器	50 mW 高性能固体激光器， 671 nm
电泳迁移率范围	最快25 ns采样，最多 4000通道，10¹¹动态线性范围
检测器	APD （高性能雪崩光电二极管）
光强控制	0.0001% - 100%，手动或者自动