15 年
金牌会员
已认证
麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会圆满结束
2011年7月19日-7月25日,麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会分别在中山大学、武汉理工大学、南京大学、浙江大学隆重召开。此次系列研讨会吸引众多学校以及研究所教授约200位专家学者参与了此次大会.
研讨会主题为物理吸附与化学吸附的理论与实践,麦克仪器资深专家Jeff Kenvin博士与Jacek Jagiello博士,报告了物理吸附与化学吸附基本理论,并与实践经验相结合,引起与会专家学者和业内同仁们热烈的反响和讨论。
此次研讨会为颗粒表征与技术工作者提供了一次宝贵的学习、交流平台,取得了良好的效果,与会代表纷纷表示这次研讨会对他们的工作帮助很大,希望以后能够继续参加类似的活动。
更多产品请登陆麦克官网:;美国总部网站:
麦克热线:400-630-2202
美国麦克仪器 2011-08-01 | 阅读:2107
最新动态
更多
线上分享:零长柱(ZLC)技术研究丙烷在沸石中的扩散
应用实例
2024-08-06
Micromeritics 加入马尔文帕纳科成为颗粒表征领域的全球领导者
公司动态
2024-07-19
探索电池性能的微观世界:麦克仪器电池材料孔隙率表征新方案
公司动态
2024-07-09
麦克仪器与您相约 CPHI 2024
公司动态
2024-06-19