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成都精新JX-2000B型显微图像分析仪
因为粉体形态各异,在借助激光粒度仪测试的同时,选用JX-2000B型图像分析仪,能更准确直观粒度形貌,控制分析好产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像头、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。
指标与性能
1、测试范围:0.5~3000μm
2、最大放大倍数:4000倍
3、最大分辨率:0.1μm
4、数字摄像头(CCD):300或500万像素
5、显微镜:配置透反射显微镜(带有金相功能)
6、标尺刻度:10μm
7、分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等
8、接口方式: USB方式
适用领域
1、 粉体材料:金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉。
2、固体材料:陶瓷片表面晶体结构,金属、合金表面晶形结构,其它不透光物体表面晶体结构。
3、 用于验证其他粒度测试的手段和方法。
仪器特点
软件功能强大,可根据行业特殊要求,设计磨料、硅灰石等专用软件。采用全平场消色差物镜,最大分辨率0.07微米,最大光学放大倍数1600倍,图像打印最大倍数4000倍,还可根据需要输出多种格式的测试报告。
测试报告:
成都精新 2017-03-22 | 阅读:2384
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